日本SANKO ULT-5000超音波式膜厚計(jì) 測(cè)定方式 超音波式パルス反射方式 測(cè)定範(fàn)囲 0.5～6.0mm（探觸子、測(cè)定対象による） 表示分解能 0.01mm

日本SANKO SWT-8000N膜厚計(jì) 測(cè)定範(fàn)囲 0～2.00mm 表示分解能 1μm：0～999μm 　切替で 0.1μm：0～400μm 　　　　　　0.5μmμm：400～500μm 0.01mm：1.00～2.00mm

日本SANKO TL-50膜厚計(jì) 測(cè)定範(fàn)囲 0.1～5mm 測(cè)定精度 均一面に対して指示値の±5％

日本SANKO UNIBOY-E渦電流式膜厚計(jì) 測(cè)定範(fàn)囲 0～900μm 表示分解能 1μm 測(cè)定精度 均一面に対して±1μmまたは指示値の±3％

VICTOR 852A涂（鍍）層測(cè)厚儀 測(cè)量范圍 0～1200um 測(cè)量誤差 3%±1um Z小示值 1um 顯示方式 4位液晶數(shù)字顯示